Anritsu 安立知推出整合式 LTE-Advanced 訊號衰減模擬器
前言：
MD8430A 訊令測試儀支援 4x4 MIMO 及 8x2 MIMO 衰減測試
2015年9月22日--Anritsu 安立知為其領先業界的 4G LTE-Advanced 訊令測試儀 – MD8430A 推出整合通道衰減模擬功能。新增的數位基頻衰減選項使 MD8430A 成為一款全功能的衰減模擬器，並支援業界標準 3GPP 定義的衰弱訊號規格。
新推出的通道衰減選項能夠與 MD8430A 有效結合，無需因應實際的射頻 (RF) 條件投資額外的硬體來執行訊令測試。此為首款內建衰減功能的 LTE-Advanced 訊令測試解決方案，可支援 4x4 MIMO 下行鏈路配置。
Anritsu MD8430A 深受 LTE 和 LTE-Advanced 開發工程師的信賴，成為在實驗室中模擬 LTE 網路的主要訊令測試儀。隨著這項新功能的發佈，多功能的 MD8430A 硬體平台正持續進展，為 Anritsu 安立知的客戶帶來更大的投資報酬率。
諸如建築物和樹木等高大的結構，經常反射並分散傳送的無線電波，這意味著接收器實際接收到來自不同強度、時間與方向等「多重路徑」 (multipaths) 的多個原始訊號。LTE-Advanced 的一項關鍵特色是「多輸入多輸出」 (Multiple Input Multiple Output，MIMO) 天線系統，即利用多重路徑來提升裝置性能。為了充份地測試這一類 MIMO 裝置，多徑衰減效應必須以可重複的方式準確地施加在每一根天線上。
MD8430A 訊令測試儀藉由內部數位基頻處理，在測試執行期間應用多徑效應，而 Rapid Test Designer (RTD) 軟體則為該測試儀提供了建立與執行衰減模擬測試的整合環境。同時可支援包括載波聚合 (Carrier Aggregation，CA) 與 MIMO 等 LTE-Advanced 功能，使得 MD8430A 成為協助晶片設計人員打造下一代高性能行動裝置的理想解決方案。除了透過 RF 連線測試裝置以外，內建衰減選項的 MD8430A 亦可支援慢速時脈數位介面，在開始生產昂貴的 ASIC 之前，可先在模擬的環境中驗證設計。
關於 Anritsu
Anritsu 集團創建於 1895 年，目前是國際上最主要的量測儀器製造商之一。全球總部設於日本厚木市，研發單位及製造工廠位於日本、美國、英國及丹麥等，Anritsu 產品包括無線通訊測試、微波射頻元件測試、數據通信測試、光元件特性測試等，其測試系統在行動通訊領域，更具國際領先地位。Anritsu 產品包括：頻譜分析儀、網路分析儀、訊號產生器、無線通訊綜合測試儀、通訊協定分析儀、藍牙測試儀、數據品質分析儀、光時域反射儀及各類手持式分析儀，產品跨及商用、民生、國防領域。Anritsu 還提供精密微波/RF 元件、光學元件、通訊系統的高速電子元件。Anritsu 的辦事處遍佈全世界，在 90 多個國家銷售產品，擁有大約 4,000 名員工。
安立知股份有限公司為 Anritsu (安立知) 集團在台灣之分支機構。除台北總公司外，在新竹亦設有服務據點，為客戶提供產品、技術應用及售後服務等全方位服務。
如需更多資訊請聯繫: actw.marketing@anritsu.com
