2015年8月4日--NI 國家儀器 (Nasdaq: NATI) 身為平台架構系統供應商，可協助工程師和科學家克服最艱鉅的工程挑戰，並於今天推出無線測試系統 (WTS)，一款可大幅降低大量無線製造測試成本的解決方案。 儘管無線測試的複雜度與日俱增，有了這款具有最佳量測速度與平行測試功能的系統，企業即可有效降低測試成本，將生產效率提升好幾倍。
「物聯網 (IoT) 等大趨勢將驅動更多的設備納入 RF 和感測器功能，以往這類設備的測試成本非常昂貴，但是測試成本不應該限制工程師創新或產品的經濟可行性」，Frost & Sullivan 的量測和儀器專案經理 Olga Shapiro 表示：「為了維持未來的獲利能力，企業必須重新思考自身的無線測試方法，採用新的模式。 由於 WTS 採用業界肯定的 PXI 平台，還有 NI 的市場專業做為堅強後盾，我們預期這個系統將對物聯網產生重大影響。」
WTS 結合了最新的 PXI 硬體，針對多種標準、多種 DUT 和多種連接埠測試需求提供了單一平台。 如果再搭配靈活的測試序列軟體一起使用，例如 TestStand Wireless Test Module，即可在平行測試多個裝置時，大幅提升儀器的使用效率。WTS 具有立即可用的測試序列，適合搭載 Qualcomm 與 Broadcom 晶片組的裝置，此外還配備整合式 DUT 與遠端自動化控制功能，可輕鬆整合至生產線。這樣一來，客戶即可大幅提升 RF 測試設備的效率，進一步降低測試成本。
「我們使用 NI 無線測試系統，即可透過同個設備測試多種無線技術，包括藍牙、WIFI、GPS 和無線行動技術」，HARMAN/Becker 汽車系統公司的 Markus Krauss 表示：「WTS 和 NOFFZ 的 RF 測試工程專業幫助我們大幅縮短了測試時間，加快測試系統的啟用速度。」
WTS 是 NI 採用 PXI 硬體、LabVIEW 和 TestStand軟體開發而成的最新系統 (了解 2014 年推出的半導體測試系統)。 WTS 可支援 LTE Advanced、802.11ac 和藍牙 LE 等無線標準，適用於 WLAN 存取點、行動裝置、資訊娛樂系統，以及其他納入行動、無線通訊與導航標準的多標準裝置製造測試作業。 WTS 搭載軟體設計的 PXI 向量訊號收發器技術，可針對製造測試環境提供優異的 RF 效能，而且這個平台還能夠隨著千變萬化的 RF 測試需求而擴充。
如需深入了解全新的無線測試系統，請前往 ni.com/wts。
【有關 NI 國家儀器】
從 1976 年以來，NI (www.ni.com) 就針對產能、創新、開發等作業，持續提供高效率的工具給工程師與科學家。NI 圖形化系統設計 (GSD) 為整合式的軟硬體平台，可提高各種量測與控制系統的開發速度。NI 提供完整的生態系統，其中納入各種服務、支援與 700 名以上的聯盟夥伴，進而協助客戶成功開發系統。公司設定了長期願景，並且致力於透過技術為社會盡一己之力，進而協助員工、股東與供應商蒸蒸日上。
